X射線探傷優(yōu)點(diǎn)：
   X射線實(shí)時(shí)成像直觀、照相底片可以長時(shí)間的保存，對(duì)薄壁工件無損探傷靈敏度較高。 對(duì)體積狀缺陷敏感，缺陷影象的平面分布真實(shí)、尺寸測量。對(duì)工件表面光潔度沒有嚴(yán)格要求，材料晶粒度對(duì)檢測結(jié)果影響不大,可以適用于各種材料內(nèi)部缺陷檢測。所以在壓力容器的焊接質(zhì)量檢驗(yàn)中得到廣泛應(yīng)用。
X射線探傷缺點(diǎn)：
   對(duì)面狀缺陷不敏感，射線對(duì)人體有害，射線源昂貴，防護(hù)成本更高。射線照相法底片評(píng)定周期較長，對(duì)厚壁工件檢測靈敏度低。

工業(yè)X射線探傷常用標(biāo)準(zhǔn)簡介及適用范圍
1、中國鍋爐、壓力容器行業(yè)射線探傷標(biāo)準(zhǔn)：
JB/T4730.2—2005 承壓設(shè)備無損檢測第二部分：射線檢測
GB/T3323—2005   鋼溶化焊對(duì)接接頭射線照相及焊縫質(zhì)量分級(jí)
2、美國標(biāo)準(zhǔn)：ASME第五卷A分冊第二章、B分冊第二十二章；
3、國標(biāo)：
DG1410---2006     射線檢測（一般性要求）
DG1410.1---2006   鋼對(duì)接接頭射線照相檢驗(yàn)規(guī)程
DG1410.2---2006   小口徑管對(duì)接接頭射線照相檢驗(yàn)規(guī)程
DG1410.3---2006   小口徑管對(duì)接接頭射線實(shí)時(shí)成像檢驗(yàn)規(guī)
4、JB/T4730.2—2005 標(biāo)準(zhǔn)將焊縫射線照相的質(zhì)量分為*、AB級(jí)、B級(jí)三個(gè)級(jí)別（級(jí)別不同、照相靈敏度、清晰度、
對(duì)比度不同）
B 級(jí)為，一般應(yīng)用于核容器焊縫檢驗(yàn)；
*為低級(jí)，可應(yīng)用于一般結(jié)構(gòu)件焊縫檢驗(yàn)；
AB為中間級(jí)，主要應(yīng)用于鍋爐、壓力容器受壓對(duì)接焊縫檢驗(yàn)；
5、JB/T4730.2—2005標(biāo)準(zhǔn)將焊縫質(zhì)量分為四個(gè)級(jí)別；
1級(jí)為，常用于有特別要求設(shè)備之對(duì)接焊縫質(zhì)量驗(yàn)收；
2級(jí)主要用于鍋爐、壓力容器的重要受壓對(duì)接焊縫之質(zhì)量驗(yàn)收。
3級(jí)主要用于重要結(jié)構(gòu)件及鍋爐、壓力容器一般受壓對(duì)接焊縫之質(zhì)量驗(yàn)收。
4極為低級(jí)，要求焊縫質(zhì)量4級(jí)合格的產(chǎn)品不應(yīng)該再進(jìn)行RT檢驗(yàn)。
等等一些標(biāo)準(zhǔn)